MEF2013 Countdown - Forum Exhibitors

クノーテクノクラフト

MEMS事業への取り組み

MEMS製造における検査装置の開発、製造、販売を行っています。

外観検査装置、欠陥検査装置、寸法検査装置等に加え、貼り合せ装置などの一部製造装置も取り扱っています。

出展製品の紹介

両面検査装置 表裏のずれ測定

測定分解能約0.35μm(20倍対物レンズ時)

画像処理による高再現性を実現

12インチまで対応可

 

二重焦点検査 異なる高さの焦点を同時に観察

IR仕様ではシリコン透過して観察可能

 

そり測定機  白色コンフォーカルセンサーによる基盤、ウエハ等のそり測定

材質を選ばず高精度な高さ検出

       自動ステージとの組合せにより、そり、形状等測定可能

 

特殊接着剤  ニーズに合わせた特殊接着剤

素材、機能、用途に合わせ製作、少量より可

 

 

Column’s Author

Sinichi Kato is a freelance writer and editor specializing in MEMS, semiconductor, display, and energy-related technologies. He also conducts various projects in research, event planning and consulting on a broader range of topics such as electronics, city planning, lifestyle, and culture.

From 2008 to 2010, Mr. Kato worked as a staff writer and editor for the Nikkei Microdevices magazine and the Tech-On! online technical media at Nikkei Business Publications. Before joining Nikkei Business, he worked for Electronic Journal, Inc. as a staff writer and editor for Electronic Journal, a publication dedicated to electronics, since 2002. Mr. Kato graduated from Chuo University in Tokyo in 1999 with a BA degree in literature.

 

加藤 伸一 略歴:

MEMSや半導体、ディスプレイやエネルギー関連デバイスなどの専門誌における経験をもとに、エレクトロニクスから街づくり、衣食を中心とした生活、文化関連まで、幅広い分野で活動するジャーナリスト。産業技術総合研究所 集積マイクロシステム研究グループ広報担当。

2002年~2008年 株式会社電子ジャーナル(Electronic Journal, Inc.)にて、エレクトロニクス専門誌「Electronic Journal」の記者。

2008年~2010年 株式会社日経ビーピー(Nikkei Business Publications, Inc.)にて、電子でバイス専門誌「Nikkei Microdevices」や、技術系webサイト「Tech-On !」の記者。

2010年~ フリーランスのジャーナリストとして、各種調査、イベント企画、コンサルティングなどの領域で活動中。

MEF 2017 Partner

MEDIA PARTNER

MEF 2017 Sponsor

MEF 2017 Exhibitors

  東京大学 三宅研究室

 

  東北大学 桑野研究室

  

  4大学ナノ・マイクロ

   ファブリケーション

    コンソーシアム

MEF Partner News - MEMS and Sensors Industry Group(MSIG)